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【 生活傳媒／台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】 隨著科學檢測技術持續進步，X射線螢光分析儀（XRF）逐漸應用於青花瓷研究與真偽判讀。檢測人員可在原則上不取樣、不損傷器物的情況下，分析青花紋飾、透明釉、胎體及疑似修補區域的元素組成，為青花料來源、胎釉配方、燒製工藝及後期補彩提供科學線索。 青花瓷是在瓷胎上以含鈷色料繪製紋飾，再罩上透明釉並經高溫燒成。XRF可檢測鈷、鐵、錳、鎳、銅、鋅、鈦、鈣、鉀等元素訊號。不同時期、窯口與原料來源，可能形成不同的青花料及胎釉元素特徵。 例如，不同青花料的鈷、鐵、錳及鎳等元素比例可能存在差異，可作為研究原料與製作技術的參考。然而，元素特徵可能重疊，也會受到燒成、配料及釉層影響，因此不能僅憑某一元素比例直接判定窯口或年代。 專業檢測應分別測量深藍、淡藍、留白、透明釉、底足露胎、款識及疑似修補部位。若器身、口沿、底部或補配部位呈現明顯不同的元素組合，可能反映局部補彩、重新上釉、接底或後期修復，需要進一步查證。 XRF主要分析表面與近表層，青花料又位於透明釉下方，因此讀值會受到釉层厚度、器物曲面、污染、土沁及測量時間影響。單一測點或單一元素含量，不能直接作為真偽與斷代結論。 中華文物藝術品交易網表示，XRF的價值，是將青花瓷的胎、釉與鈷料特徵轉化為可記錄、可比較及可複核的元素證據。最終鑑定仍須結合器形、紋飾、畫法、胎釉、款識、燒製痕跡、底足處理及來源紀錄，必要時配合拉曼光譜、顯微觀察或其他科學方法。 未來若能建立不同年代、窯口及可靠標準樣本的青花瓷元素資料庫，並整合器物影像、測點位置、XRF原始光譜及流傳紀錄，將有助於鑑定培訓、學術研究與市場交易，為每件藏品建立可持續查核的數位科學履歷。
專業人員以手持式XRF分析儀，針對青花瓷的深淺青花、透明釉與底足露胎部位進行多點元素檢測，作為研究鈷料、胎釉配方及修補情況的科學依據。 |
