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【 生活傳媒／台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】 隨著珠寶與文物檢測技術持續發展，X射線螢光分析儀（XRF）逐漸應用於翡翠鑑定與研究。透過原則上非破壞性的元素分析，檢測人員可在不切割、不鑽孔的情況下，了解翡翠表面與近表層的元素組成，為致色成因、不同部位差異、金屬鑲座及異常處理提供科學線索。 翡翠主要由硬玉礦物組成，顏色可能受到鉻、鐵、錳等元素影響。綠色翡翠中的鉻、鐵訊號，可作為研究色彩成因的參考；紫色、黃色或褐色區域，也可能呈現不同的微量元素特徵。透過同一件翡翠多個位置的檢測，可以觀察色帶、色根與無色區域之間是否存在相應的元素變化。 若顏色只集中於裂隙、凹槽或表層，並伴隨異常元素分布，可能提示人工著色、表面處理或外來污染，需要進一步檢查。但多數有機染料並非XRF最適合辨識的材料，因此不能因未檢出特殊元素，就直接判定翡翠未經染色。 對於鑲嵌翡翠，XRF還能分析戒台、扣頭、爪座及焊接部位所使用的金、銀、銅、鋅、鎳、鈀等金屬，協助確認貴金屬材質與成色。如果不同位置的金屬比例差異明顯，也可能反映後期更換、補焊或重新電鍍。 目前市場常將翡翠分為天然未經化學處理的A貨、經酸洗與樹脂填充的B貨，以及染色處理的C貨。然而，XRF不能單獨完成A、B、C貨判定。酸洗後填入的樹脂及多數染料屬於有機材料，通常應以傅立葉轉換紅外光譜、拉曼光譜、紫外可見光譜及顯微觀察等方法檢查。 XRF對翡翠的礦物種類與產地判定也有一定限制。翡翠的主要成分包含鈉、鋁、矽等較輕元素，不同型號手持式XRF對輕元素的偵測能力與準確度有所差異；而礦物結構與產地判斷，也不能只依少數微量元素直接作出結論。 專業檢測應在翡翠正面、背面、邊緣、色帶、裂隙、無色區及疑似處理部位進行多點測量，並完整保存測點照片、儀器型號、校正資料、操作模式、測量時間、元素含量與原始光譜。若為手鐲或雕件，更應比較不同方向與不同色區的數據。 中華文物藝術品交易網表示，XRF的核心價值，是將翡翠的表面元素特徵轉化為可記錄、可比較及可複核的科學證據。最終鑑定仍須結合折射率、密度、吸收光譜、紅外光譜、拉曼光譜、螢光反應、放大觀察及專業證書，才能提高判讀可靠度。 未來若能將翡翠高清影像、尺寸重量、色彩分布、XRF測點、原始光譜、其他光譜檢測結果及來源紀錄整合至數位資料庫，將有助於鑑定培訓、品質分級與市場交易，並為每件翡翠建立更完整的科學履歷。
專業人員使用XRF分析儀，針對翡翠手鐲不同色區進行多點元素檢測，分析鉻、鐵、錳等元素訊號，作為致色特徵與異常處理調查的輔助依據。 |
